步入式環(huán)境實驗室是針對所有工業(yè)產(chǎn)品包括電子產(chǎn)品、電源電池、電腦、通訊、光電、LED、主板機、監(jiān)視器、掃描器、生物制藥、化工仿真出一種高溫惡劣環(huán)境測試的大型試驗設(shè)備，是提高產(chǎn)品性能穩(wěn)定性、可靠性的重要檢測設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)實驗室及品質(zhì)部提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要手段，該老化房適合范圍非常廣泛，而且溫度范圍及尺寸大小均可定制。

步入式環(huán)境實驗室技術(shù)指標(biāo)：

工作室容積:：5、10、20、50、100立方米（可選）

溫度范圍：常溫~80℃

濕度范圍：20～98%RH

溫度均勻度：≤2

濕度均勻度：＋2~3%R.H

溫度精度：±0.1℃

升降溫速率：0.7～1℃/min (3℃/min、5℃/min、10℃/min)

外墻材質(zhì)： 彩鋼板

內(nèi)膽材質(zhì)：SUS304不銹鋼板

保溫材料：玻璃纖維棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡

制冷方式：單元制冷方式/雙元(復(fù)疊)制冷方式

壓縮機：*口法國“泰康"全封閉制冷壓縮機

電源：380V  60/50Hz

符合標(biāo)準(zhǔn):

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。